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建筑外表面用热反射隔热涂料 - 半球发射率的测定一一辐射计法
更新日期：2021-12-21 浏览量：2109
JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料
范围
本文件规定了建筑外表面用热反射隔热涂料的术语和定义、分类和标记、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。
本文件适用于具有反射隔热功能的平涂型涂料和质感型涂料。
术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
建筑外表面用热反射隔热涂料 exterior reflective thermal insulating coatings on buildings
以合成树脂为基料，与功能性材料及助剂等配制而成，施涂于建筑物外表面，在相同明度下具有较高的太阳光反射比和半球发射率，从而起到隔热作用的涂料。
质感型热反射隔热涂料 textured reflective thermal insulating coatings
表面具有非均一颜色或表面具有立体造型的涂料。
注: 包括具有热反射隔热功能的真石漆、多彩涂料和弹性质感涂料等。
太阳光反射比 solar reflectance
注: 300nm~2500nm可见光和近红外波段反射与同波段入射的太阳辐射通量的比值。
近红外反射比 near infrared reflectance
在780nm~2500nm近红外波段反射与同波段入射的太阳辐射通量的比值。
半球发射率 hemispherical emittance
热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值。
与参比黑板的隔热温差 thermal insulation temperature difference with reference plate
在相同辐射光源的照射下，参比黑板与测试试板背向光源一侧表面温度的差值。
明度 lightness
表示物体表面颜色明亮程度的视知觉特性值，以绝对白色和绝对黑色为基准给予分度，是颜色的三属性之一。
分类和标记
分类
按明度(L*值)高低分为低明度L*≤40 (代号为L)；中明度40<L*≤80(代号为M)；中高明度80<L*≤95(代号为MH)和高明度L*>95(代号为H)。
按涂层状态分为平涂型(代号为F)和质感型(代号为T)。
按使用部位又分为墙面用(代号为W) 和屋面用(代号为R)。
标记
按产品名称、标准编号、明度、涂层状态、使用部位的顺序标记。
示例: 符合本文件的建筑外墙用中明度平涂型热反射隔热涂料标记为:
建筑外表面用热反射阳热涂料 JC/T 1040-2020 M F W
要求
基本性能
应符合表1所列产品标准中高等级要求。
反射隔热性能
平涂型
平涂型热反射隔热涂料反射隔热性能应符合表2的要求。
质感型
质感型热反射隔热涂料反射隔热性能应符合表3的要求。
试验方法
半球发射率
按附录B的规定进行。
附录B (规范性附录)
半球发射率的测定一一辐射计法
原理
加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，在温度稳态下通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大�。贸鍪园宓姆⑸渎�。
试验装置
辐射计
差热电堆式辐射能探测器
由可控加热器、高发射率探头元件和低发射率探头元件构成，可控加热器应能保证探测器温度高于试板温度或标准板温度。发射率探头元件应能产生与温差成比例关系的输出电压。探测器重复性应为±0.01。
读数模块
读数�？橛氩钊鹊缍咽椒淠芴讲馄飨嗔�，用于处理热电堆输出信号。读数模块数显分辨率应为0.01。
热沉
热沉用于放置试板和标准板，热沉应导热良好，能使试板和标准板温度稳定一致。
标准板
由低发射率标准板和高发射率标准板组成。
测试试板制备
平涂型F
将搅拌混合均匀的涂料刮涂或喷涂在铝合金板表面，至少分两次施涂，施涂时间间隔不小于6h。溶剂型产品干膜总厚度控制在0.10mm~0.20mm，水性产品控制在0.15mm~0.30mm。在标准试验条件下养护7d后进行试验。有配套底漆和罩面漆时也可按照产品说明进行制样，并在报告中注明各道涂料的施涂工艺。
质感型T
将搅拌混合均匀的涂料刮涂或喷涂在铝合金板表面。多彩类涂料涂层干膜总厚度0.20mm~0.50mm，其他类质感型涂料干膜总厚度约为2mm。在标准试验条件下养护14d后进行试验。有配套底漆、中涂和罩面漆时，也可按照产品说明进行制样，并在报告中注明各道涂料的施涂工艺。
试验过程
平涂型样品
在标准试验室环境中调节状态使高低发射率板、热沉和试板温度一致。
开启试验装置电源，仪器预热至稳定。
将高、低发射率标准板置于热沉上，探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微调使读数与标准板的标示值一致，再重复一遍此步骤。
将试板置于热沉上90s，然后将探测器放在试板上直至读数稳定，即为测量结果。
质感型样品
将高、低发射率标准板置于热沉上，将试板放置在热沉边，在标准试验室环境中调节状态使高低发射率板、热沉和试板温度一致。
开启试验装置电源，仪器预热至稳定。
将探测器分别放在高、低发射率标准板上90s，通过微调使读数与标准板的标示值一致，再重复一遍此步骤。
将探测器放到试板被检测表面上位置1大约20s，然后将探测器贴着被测表面滑动至位置2停留大约15S，再滑动至位置3停留大约15s，最后滑动至位置4停留约20s，记录位置4的读数，每个位置点间距约为100mm，如图B.1所示。
结果处理
取所有试板测量结果的算术平均值作为最终结果，结果应精确至0.01。同时报告试板干膜厚度。
辐射计法半球发射率测定仪 D&S AERD
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